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          專利名稱
          主分類
          A 農業
          B 作業;運輸
          C 化學;冶金
          D 紡織;造紙
          E 固定建筑物
          F 機械工程、照明、加熱
          G 物理
          H 電學
          專利下載VIP
          公布日期
          2022-07-29 公布專利
          2022-07-26 公布專利
          2022-07-22 公布專利
          2022-07-19 公布專利
          2022-07-15 公布專利
          2022-07-12 公布專利
          2022-07-08 公布專利
          2022-07-05 公布專利
          2022-07-01 公布專利
          2022-06-28 公布專利
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          專利權人
          國家電網公司
          華為技術有限公司
          浙江大學
          中興通訊股份有限公司
          三星電子株式會社
          中國石油化工股份有限公司
          清華大學
          鴻海精密工業股份有限公司
          松下電器產業株式會社
          上海交通大學
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          • [發明專利]缺陷檢測裝置、缺陷修復裝置、缺陷檢測方法-CN201110072153.3無效
          • 山本修平;中西秀信;植木章太 - 夏普株式會社
          • 2011-03-16 - 2011-12-14 - G01N21/88
          • 本發明公開一種缺陷檢測裝置、缺陷修復裝置、缺陷檢測方法。本發明提供即使在缺陷包含多種顏色的圖像元素的情況下、也能根據所包含的顏色的比例以適當基準進行判斷的缺陷檢測裝置。該缺陷檢測裝置包括:拍攝顯示面板并獲取作為圖像數據的拍攝部;從圖像數據提取缺陷部位候選的缺陷部位檢測部;確定關于缺陷部位候選的對象物的圖像元素的顏色的顏色確定部;及對對比度值乘以根據顏色不同而不同的修正系數以計算出缺陷度、并在缺陷度大于判定值的情況下判定為缺陷的好壞判定部,好壞判定部在一個缺陷部位候選包含多種顏色的圖像元素的情況下,對每一顏色的對比度值乘以根據顏色不同而不同的修正系數之后進行總計以計算出缺陷度。
          • 缺陷檢測裝置修復方法
          • [發明專利]缺陷檢測裝置、缺陷修正裝置及缺陷檢測方法-CN201310377121.3在審
          • 大庭博明 - NTN株式會社
          • 2013-08-26 - 2014-03-12 - G01N21/88
          • 發明的缺陷檢測裝置包括:攝像頭,該攝像頭拍攝基板并輸出電信號;以及圖像處理裝置,該圖像處理裝置中輸入有由攝像頭輸出的電信號。圖像處理裝置使用從電信號中得到的多個信號各自的圖像對比度中較大的對比度,來檢測基板的缺陷部。由于使用多個信號各自的圖像對比度中較大的對比度來檢測缺陷部,因此即使對于在被區分為各信號之前的圖像中與正常部之間的對比度較小的缺陷部,也能夠檢測出缺陷部,而不會使靈敏度顯著降低。
          • 缺陷檢測裝置修正方法
          • [發明專利]缺陷檢查裝置缺陷檢查方法-CN200710086201.8無效
          • 岡部浩史;金谷義宏;松本俊彥 - 歐姆龍株式會社
          • 2007-03-09 - 2007-09-12 - G01N21/95
          • 本發明提供一種能夠提高對檢查區域的端部的缺陷檢查的精度的缺陷檢查裝置以及缺陷檢查方法。光源(1A、1B)以使彼此的照射區域(檢查區域)的端部重疊的方式分別發出照射光(LA1、LB1)。主控制部件(3)合成兩個圖像并判定有無缺陷。照射光(LA1、LB1)從相互不同的方向發射到被檢查面(A),從而使各圖像中表示缺陷的區域的位置稍微錯位。因此,在各圖像中,即使表示缺陷的區域的面積小,但通過重疊兩個圖像,也能夠使在合成后的圖像中表示缺陷部的區域的面積變大。由此能夠提高對檢查區域的端部的缺陷檢測的精度。
          • 缺陷檢查裝置方法
          • [發明專利]缺陷檢測裝置、缺陷檢測方法-CN201380029536.X有效
          • 永田泰昭;佐藤雄伍 - 新日鐵住金株式會社
          • 2013-06-06 - 2017-06-23 - G01N29/04
          • 缺陷檢測裝置(100)包括相位陣列探頭(120),其設置于電阻焊接鋼管(200)的外表面(200G)的外側,排列有多個超聲波振子(121);發送部(144),其從由排列于相位陣列探頭(120)的多個超聲波振子中的一部分的多個超聲波振子構成的探傷用超聲波振子組與電阻焊接鋼管(200)的外表面(200G)呈斜角向電阻焊接鋼管(200)的外表面(200G)輸出探傷用超聲波束(131);接收部(145),其借助探傷用超聲波振子組接收反射后的探傷用超聲波束(131);以及缺陷判斷部(147),其基于接收部(145)所接收的探傷用超聲波束(131)判斷焊接部(210)是否存在缺陷。
          • 缺陷檢測裝置方法程序以及存儲介質
          • [發明專利]缺陷判斷裝置和缺陷判斷方法-CN201510072769.9在審
          • 吉岡智良;今井克樹 - 夏普株式會社
          • 2015-02-11 - 2015-09-30 - H01L21/67
          • 一種缺陷判斷裝置,確定制造裝置引起的缺陷。本發明的一個實施方式的缺陷判斷裝置(10)具備:第1候選確定部(14),其將工件中的檢查區域分割為規定的多個分割區域,將包括閾值以上的缺陷的分割區域設定為第1缺陷候選區域;以及第2候選確定部(15),其在由特定制造裝置連續處理后的A個工件的組中將B個以上的工件中包含第1缺陷候選區域的分割區域的位置判斷為該組的第2缺陷候選區域。
          • 缺陷判斷裝置方法
          • [發明專利]缺陷檢查系統及缺陷檢查方法-CN201810800030.9在審
          • 尾崎麻耶;廣瀨修 - 住友化學株式會社
          • 2018-07-19 - 2019-02-01 - G01N21/88
          • 本發明提供缺陷檢查系統及缺陷檢查方法。缺陷檢查系統(1)具備光源(2)、攝像部(3)、輸送部(4)及圖像處理部(5),由圖像處理部(5)基于對與二維圖像(F)所包含的缺陷的類別的識別相關的機械學習的結果進行積累得到的數據,來識別由攝像部(3)按離散時間拍攝出的一系列的二維圖像所包含的缺陷的類別,因此通過將機械學習適用于按離散時間拍攝出的二維圖像而使識別精度提高,除此以外,由攝像部(3)拍攝出在二維圖像的與輸送方向(X)一致的方向上亮度發生變化的二維圖像,因此機械學習被適用于在按離散時間拍攝出的二維圖像中的沿著輸送方向的各部位處亮度發生變化的二維圖像,能夠提高缺陷(D)的識別精度。
          • 二維圖像缺陷檢查系統攝像部拍攝圖像處理部缺陷檢查光源學習積累
          • [發明專利]缺陷檢測裝置和缺陷檢測方法-CN201710108958.6在審
          • 瀨戶基司;村上浩明 - 株式會社東芝
          • 2012-08-29 - 2017-08-18 - G01R31/04
          • 提供缺陷檢測裝置和缺陷檢測方法。一實施方式的缺陷檢測裝置具備測定部,測定向被檢查裝置輸入信號之后到接收由被檢查裝置的缺陷部位反射的反射信號為止的第1時間;存儲部,存儲表示與多個部件或多個部分分別相應的傳導特性的多個模型數據;控制部,對于被檢查裝置內的檢查對象的范圍時間代入與第2部分對應的模型數據來運算第2部分中的第1預測傳導距離,該第2時間是從第1時間減去與向第1部分輸入信號之后反射而接收所花費的時間相當的時間而得到的時間;以及顯示部,其基于運算結果在圖像數據顯示缺陷部位的位置
          • 缺陷檢測裝置方法

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